[00896558]基于先进CMOS工艺的PLL硬IP开发
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技术详细介绍
北京大学微电子学院从1998年起即已将基于标准CMOS工艺的锁相环(PLL)IP核的开发设计研究作为重点研究方向。经过十多年年的研究,已在鉴相器、电荷泵、压控振荡器等PLL电路模块和PLL环路结构设计中取得很好的结果,其中包括新型双边鉴相器、双边鉴相和单边鉴相自适应的鉴相器、高线性度环形压控振荡器、双控制通路结构等。采用这些新型电路模块和环路结构的PLL具有锁定时间短,稳态相差小,输出频率可调范围宽的特点。报导这些成果的论文分别发表在《半导体学报》、《微电子学》等刊物以及国际会议上。在锁相环IP硬核的设计研究方面,北京大学微电子学研究院在2001年承担了北京市科委的锁相环项目,‘CMOS锁相环(PLL)IP核开发’课题的研究工作。该项目已于2005年验收结题。该项目中,课题组采用中芯国际0.25um工艺,2.5v内部电压,完成了面向时钟产生电路应用的高速PLL的设计,经过流片验证和测试,取得的主要测试指标如下:输出频率640MHz,峰峰值抖动225ps,锁定时间<5us,功耗小于7.5mW。在该基础之上,北京大学微电子学研究院已开发了基于0.5um-0.13um的一系列PLL硬IP核。2010年完成的基于中芯国际0.13um工艺的高速低抖动PLL硬IP,主要测试指标如下:输出频率1GHz,抖动小于40ps,功耗小于6.5mW。该项目拟基于中芯国际90-65nm工艺完成高速低抖动锁相环设计,并形成满足高性能SoC设计的CMOSPLL硬IP核。研究指标为:基于中芯国际90-65nmCMOS工艺,输出频率1.5GHz,抖动小于20ps,功耗小于4mW,单电压设计,完成的IP硬核设计面向SoC设计要求,采用主流的EDA工具的标准数据格式。成果主要应用行业:集成电路芯片。当前状态:已完成0.5-0.13um的PLL硬IP开发,可直接作为产品提供用户使用,拟继续开发90-65nm的硬IP核。
北京大学微电子学院从1998年起即已将基于标准CMOS工艺的锁相环(PLL)IP核的开发设计研究作为重点研究方向。经过十多年年的研究,已在鉴相器、电荷泵、压控振荡器等PLL电路模块和PLL环路结构设计中取得很好的结果,其中包括新型双边鉴相器、双边鉴相和单边鉴相自适应的鉴相器、高线性度环形压控振荡器、双控制通路结构等。采用这些新型电路模块和环路结构的PLL具有锁定时间短,稳态相差小,输出频率可调范围宽的特点。报导这些成果的论文分别发表在《半导体学报》、《微电子学》等刊物以及国际会议上。在锁相环IP硬核的设计研究方面,北京大学微电子学研究院在2001年承担了北京市科委的锁相环项目,‘CMOS锁相环(PLL)IP核开发’课题的研究工作。该项目已于2005年验收结题。该项目中,课题组采用中芯国际0.25um工艺,2.5v内部电压,完成了面向时钟产生电路应用的高速PLL的设计,经过流片验证和测试,取得的主要测试指标如下:输出频率640MHz,峰峰值抖动225ps,锁定时间<5us,功耗小于7.5mW。在该基础之上,北京大学微电子学研究院已开发了基于0.5um-0.13um的一系列PLL硬IP核。2010年完成的基于中芯国际0.13um工艺的高速低抖动PLL硬IP,主要测试指标如下:输出频率1GHz,抖动小于40ps,功耗小于6.5mW。该项目拟基于中芯国际90-65nm工艺完成高速低抖动锁相环设计,并形成满足高性能SoC设计的CMOSPLL硬IP核。研究指标为:基于中芯国际90-65nmCMOS工艺,输出频率1.5GHz,抖动小于20ps,功耗小于4mW,单电压设计,完成的IP硬核设计面向SoC设计要求,采用主流的EDA工具的标准数据格式。成果主要应用行业:集成电路芯片。当前状态:已完成0.5-0.13um的PLL硬IP开发,可直接作为产品提供用户使用,拟继续开发90-65nm的硬IP核。