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[00315449]一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法

交易价格： 面议

所属行业： 检测仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201310025566.5

交易方式： 技术转让技术转让技术入股

联系人：厦门立德软件公司

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服务承诺: 产权明晰; 资料保密
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技术详细介绍

本发明公开了一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法，主要用于透视测量复合材料构件内部的离面位移分布。该扫描仪基于光学干涉原理，利用宽带光源的空间调制，在CCD相机的像平面上，将被测复合材料构件内部切面的干涉光谱展开，从光谱的相频特性中计算出复合材料构件内部切面的离面位移分布。该扫描仪可以对透明和光学浑浊复合材料构件进行透视测量，特点是轴向轮廓和离面位移的测量分辨率高，测量速度快，适用于复合材料构件力学特性研究及其微小缺陷检测辨识。

[00315449]一种光学干涉谱域相位对照B扫描仪及其测量方法

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