技术详细介绍
本发明公开了一种片式元件检测分选一体化检测机构，包括内层排列机构、外层检测机构和筛选机构三大部分，所述内层排列机构、外层检测机构和筛选机构均置于环形基座上，所述底座通过底座支架和中央主轴轴套一支撑，所述轴套一压在变速装置上。
只需从中间的入料处倒入散乱元件，便可从多条轨道上同时输出排列好的元件并进行检测。整机运行顺畅，检测效率较传统检测机构大大提高。
同时，综合运用工业相机与超声波探测头进行检测，可检测的方面更多，对元件质量的判断更全面，误判率更低。元件检测过程无需停顿，避免了取料器取料出料时对元件的伤害。
此外，还可实现不合格元件的集中。