[00300891]一种基于点匹配的基准标志定位方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610842936.8
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
哈尔滨工业大学
进入空间
所在地：黑龙江哈尔滨市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明提供一种定位精度高、实时性好及对光照具有较高鲁棒性的基于点匹配的基准标志定位方法，属于图像处理技术领域。包括如下步骤步骤一离线获取表征Mark点形状的关键顶点；步骤二在线获取待定位Mark点的图片，进行角点或中心点检测，得到Mark点的角点或中心点；步骤三对步骤二检测到的角点，进行聚合，并提取亚像素角点；步骤四建立从步骤三中提取的亚像素角点或步骤二得到的中心点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数，利用配准方法，求取建立的空间变换函数的参数，即获得待定位Mark点的图片的Mark点定位信息。本发明用于SMT对PCB板的Mark点的定位。
摘要：本发明提供一种定位精度高、实时性好及对光照具有较高鲁棒性的基于点匹配的基准标志定位方法，属于图像处理技术领域。包括如下步骤步骤一离线获取表征Mark点形状的关键顶点；步骤二在线获取待定位Mark点的图片，进行角点或中心点检测，得到Mark点的角点或中心点；步骤三对步骤二检测到的角点，进行聚合，并提取亚像素角点；步骤四建立从步骤三中提取的亚像素角点或步骤二得到的中心点变换至步骤一得到的相应关键顶点的空间变换函数，利用配准方法，求取建立的空间变换函数的参数，即获得待定位Mark点的图片的Mark点定位信息。本发明用于SMT对PCB板的Mark点的定位。
