[00300348]一种基于残差的图像超分辨率重建方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201210170038.4
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
杭州电子科技大学
进入空间
所在地：浙江杭州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种基于残差的图像超分辨率重建方法。本发明的具体步骤是：首先，计算原高分辨率图像与低分辨率图像经插值放大后的图像之间的残差；其次，以低分辨率图像样本特征和对应图像残差建立样本对，以低分辨率样本为基准采用K-均值对样本对进行分类，并对每一类样本对采用K-SVD方法进行训练获得低分辨率样本与图像残差的字典对；最后，根据测试样本与类中心的欧氏距离选择字典对，将与测试样本具有相近欧氏距离的各类别所重建的图像残差求加权和作为重建的最终图像残差，并结合低分辨率图像的插值结果获得高分辨率图像。本发明只需重构图像残差，结合插值图像即可重建高分辨率图像,提高了高分辨率图像边缘细节处的重建结果。
摘要：本发明涉及一种基于残差的图像超分辨率重建方法。本发明的具体步骤是：首先，计算原高分辨率图像与低分辨率图像经插值放大后的图像之间的残差；其次，以低分辨率图像样本特征和对应图像残差建立样本对，以低分辨率样本为基准采用K-均值对样本对进行分类，并对每一类样本对采用K-SVD方法进行训练获得低分辨率样本与图像残差的字典对；最后，根据测试样本与类中心的欧氏距离选择字典对，将与测试样本具有相近欧氏距离的各类别所重建的图像残差求加权和作为重建的最终图像残差，并结合低分辨率图像的插值结果获得高分辨率图像。本发明只需重构图像残差，结合插值图像即可重建高分辨率图像,提高了高分辨率图像边缘细节处的重建结果。
