[00277970]单光谱检测温度场的方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610216602.X
交易方式：
技术转让
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技术入股
联系人：
南昌航空大学
进入空间
所在地：江西南昌市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及荧光测温领域，具体涉及一种单光谱检测温度场的方法。本发明的核心部份是使用本征发光特征不相同的多个温度敏感荧光材料构成多个点温度传感器，激发光照射到各个温度探测点上，各点不同的荧光材料发出的荧光经会聚或合束后进入光谱仪，叠加记录在同一个发射光谱上，该光谱携带了各个探测点的温度信息，从光谱上选取各荧光材料互不干扰的温敏荧光特征，基于各荧光特征的温敏函数解析出各荧光材料所处探测点的实时温度。该实时温度场信息可以用于监控热流过程、分析被测表面的温度均匀性。
摘要：本发明涉及荧光测温领域，具体涉及一种单光谱检测温度场的方法。本发明的核心部份是使用本征发光特征不相同的多个温度敏感荧光材料构成多个点温度传感器，激发光照射到各个温度探测点上，各点不同的荧光材料发出的荧光经会聚或合束后进入光谱仪，叠加记录在同一个发射光谱上，该光谱携带了各个探测点的温度信息，从光谱上选取各荧光材料互不干扰的温敏荧光特征，基于各荧光特征的温敏函数解析出各荧光材料所处探测点的实时温度。该实时温度场信息可以用于监控热流过程、分析被测表面的温度均匀性。
