[00277968]基于宽带荧光光谱的强度比测温方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510570466.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南昌航空大学
进入空间
所在地：江西南昌市
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-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及到一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，主要是利用宽带荧光发射谱谱带上选取的双波长光强度比随温度变化的现象。该方法用于温度测量时，在特定宽带荧光材料的发射光谱谱带的波长范围内选定两个合适的波长，计算这两个波长的荧光发射强度比，强度比数值与温度值的函数关系即为传感方程，未知温度下的荧光强度比数值是传感信号，输入到传感方程即得到待测温度值。本发明给出了一种新的荧光强度比测温方法，不再限于传统的荧光强度比测温技术使用有限的几种稀土离子的分立谱线发光光谱，因此荧光强度比测温敏感材料的可选范围更广，成本更低。
摘要：本发明涉及到一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，主要是利用宽带荧光发射谱谱带上选取的双波长光强度比随温度变化的现象。该方法用于温度测量时，在特定宽带荧光材料的发射光谱谱带的波长范围内选定两个合适的波长，计算这两个波长的荧光发射强度比，强度比数值与温度值的函数关系即为传感方程，未知温度下的荧光强度比数值是传感信号，输入到传感方程即得到待测温度值。本发明给出了一种新的荧光强度比测温方法，不再限于传统的荧光强度比测温技术使用有限的几种稀土离子的分立谱线发光光谱，因此荧光强度比测温敏感材料的可选范围更广，成本更低。
