[00275469]联合泰森多边形与反距离加权的密度图制图方法
交易价格:
面议
所属行业:
分析仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201310215282.2
交易方式:
技术转让
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技术入股
联系人:
南京大学
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所在地:江苏南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
联合泰森多边形与反距离加权的密度图制图方法,首先读取离散点数据,以离散点构建V图;然后对整个V图区域进行栅格化,并根据像元与V多边形的隶属关系及V多边形内部像元中心点距离散点的距离来计算像元的密度值。为使结果更加合理,本发明中对生成栅格进行了邻域均值平滑处理,并进行重分类,赋予不同的灰度值;最后,渲染所有栅格。基于离散点构建的V图通过基于最短距离约束的空间划分为每个离散点生成影响范围,在此范围内进行局部密度计算保证了各影响范围之间计算结果的可比性及可靠性;另外,本方法中考虑了影响范围内不同像元点密度的差异,在各点所在的V多边形内部采用了基于距离的密度值分配办法,使结果更加合理准确。
联合泰森多边形与反距离加权的密度图制图方法,首先读取离散点数据,以离散点构建V图;然后对整个V图区域进行栅格化,并根据像元与V多边形的隶属关系及V多边形内部像元中心点距离散点的距离来计算像元的密度值。为使结果更加合理,本发明中对生成栅格进行了邻域均值平滑处理,并进行重分类,赋予不同的灰度值;最后,渲染所有栅格。基于离散点构建的V图通过基于最短距离约束的空间划分为每个离散点生成影响范围,在此范围内进行局部密度计算保证了各影响范围之间计算结果的可比性及可靠性;另外,本方法中考虑了影响范围内不同像元点密度的差异,在各点所在的V多边形内部采用了基于距离的密度值分配办法,使结果更加合理准确。