[00257972]基于不同频率介损比值的XLPE绝缘老化状态评估方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610404171.X
交易方式:
技术转让
技术转让
技术入股
联系人:
西安交通大学
进入空间
所在地:陕西西安市
- 服务承诺
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-
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对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种基于不同频率介损比值的XLPE绝缘老化状态评估方法,包括如下步骤:准备电缆绝缘内、中、外层切片试样;在相同条件下进行50Hz及0.1H电压下的试样介损测量;获得每个试样在0.1Hz和50Hz下介损的比值,在此基础上,计算得绝缘各层以及绝缘整体的介损比值;根据各层介损比值的大小及变化规律,以及绝缘整体介损比值的大小,评估交流或直流电缆XLPE绝缘的老化状态;按照本发明方法可以消除不同位置老化不均匀的影响,有利于反映绝缘的整体状态,对交、直流电缆XLPE绝缘的老化程度进行准确评估;测试所需的试样量小,对测试仪器的电压及容量要求低;以不同频率下介损测量值的比值作为特征参数,减小了测试仪器系统误差和外界环境的影响;无需与历史数据对比,工程应用方便。
一种基于不同频率介损比值的XLPE绝缘老化状态评估方法,包括如下步骤:准备电缆绝缘内、中、外层切片试样;在相同条件下进行50Hz及0.1H电压下的试样介损测量;获得每个试样在0.1Hz和50Hz下介损的比值,在此基础上,计算得绝缘各层以及绝缘整体的介损比值;根据各层介损比值的大小及变化规律,以及绝缘整体介损比值的大小,评估交流或直流电缆XLPE绝缘的老化状态;按照本发明方法可以消除不同位置老化不均匀的影响,有利于反映绝缘的整体状态,对交、直流电缆XLPE绝缘的老化程度进行准确评估;测试所需的试样量小,对测试仪器的电压及容量要求低;以不同频率下介损测量值的比值作为特征参数,减小了测试仪器系统误差和外界环境的影响;无需与历史数据对比,工程应用方便。