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[00213620]一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统

交易价格: 面议

所属行业: 光机电一体化

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:201310244775.9

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 深圳大学

进入空间

所在地:广东深圳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

  一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统。

  成果简介


  该技术在SPIDER (光谱相位剪切干涉直接光场重建)系统中,引入可控的π相移器件,使得光谱干涉图样中引入π相移,利用此π相移可以消去光谱干涉图样中的直流分量,在数据处理上不再需要用时间窗滤去直流量,消除了直流量与交流量的时间交量对测量结果的影响,从而获取非算法提取的交流干涉信息。 由于不需要使用交流提取算法,这种方法可提高测量精度以及扩大测量范围. 同时可以减弱系统测量结果对算法的依赖性、 提高SPIDER系统测量结果的可靠性以及准确性。 因此,本光谱相位干涉装置广泛应用于各种超短光脉冲电场直接重构系统,尤适用于测量光谱形状比较复杂或光谱较窄的超短脉冲时间/光谱特性.

  技术创新

  在SPIDER系统中使用二步相移技术,提高系统测量结果的可靠性以及准确性。

  专利情况

  申请号:201310244775.9

  市场前景及应用领域

  由于该技术能有效减弱测量结果对算法的依赖性,并且提高测量精度以及扩大测量范围,能够应用于各种超短光脉冲电场直接重构系统,尤适用于测量光谱形状比较复杂或光谱较窄的超短脉冲时间/光谱特性。

  一种光谱相位干涉装置及超短光脉冲电场直接重构系统。

  成果简介


  该技术在SPIDER (光谱相位剪切干涉直接光场重建)系统中,引入可控的π相移器件,使得光谱干涉图样中引入π相移,利用此π相移可以消去光谱干涉图样中的直流分量,在数据处理上不再需要用时间窗滤去直流量,消除了直流量与交流量的时间交量对测量结果的影响,从而获取非算法提取的交流干涉信息。 由于不需要使用交流提取算法,这种方法可提高测量精度以及扩大测量范围. 同时可以减弱系统测量结果对算法的依赖性、 提高SPIDER系统测量结果的可靠性以及准确性。 因此,本光谱相位干涉装置广泛应用于各种超短光脉冲电场直接重构系统,尤适用于测量光谱形状比较复杂或光谱较窄的超短脉冲时间/光谱特性.

  技术创新

  在SPIDER系统中使用二步相移技术,提高系统测量结果的可靠性以及准确性。

  专利情况

  申请号:201310244775.9

  市场前景及应用领域

  由于该技术能有效减弱测量结果对算法的依赖性,并且提高测量精度以及扩大测量范围,能够应用于各种超短光脉冲电场直接重构系统,尤适用于测量光谱形状比较复杂或光谱较窄的超短脉冲时间/光谱特性。

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