技术详细介绍
一种测定铁氰化镍不溶性和可溶性结构相对含量的方法是采用常规的三电极体系和恒电位仪，以沉积有电活性铁氰化镍半导体薄膜的膜电极为工作电极，分别在含钾盐溶液中测定其循环伏安曲线，利用不同结构铁氰化镍膜电极在氧化还原过程中产生的循环伏安曲线的不同峰形特征测定“不溶性”和“可溶性”结构的相对含量。本发明方法简单，操作快捷方便，可靠性好。
一种测定铁氰化镍不溶性和可溶性结构相对含量的方法是采用常规的三电极体系和恒电位仪，以沉积有电活性铁氰化镍半导体薄膜的膜电极为工作电极，分别在含钾盐溶液中测定其循环伏安曲线，利用不同结构铁氰化镍膜电极在氧化还原过程中产生的循环伏安曲线的不同峰形特征测定“不溶性”和“可溶性”结构的相对含量。本发明方法简单，操作快捷方便，可靠性好。
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