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[00201762]紫外光学材料折射率测量装置

交易价格: 面议

所属行业: 光学仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 通过小试

专利所属地:中国

专利号:200810150901.3

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 泰科易——泰州网上技术交易平台

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所在地:江苏泰州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍

紫外光学材料折射率测量装置
  本发明公开了一种紫外光学材料折射率测量装置,包括单色光源系统、准指光学系统、测角仪、聚焦光纤系统、广大探测处理系统、置有折射率测量软件包的计算机处理系统。主要特点是,单色光源系统提供连续可变的紫外单色光,光电探测处理系统在测角仪的带动下探测被测紫外棱镜的折射光信号并转换成电信号,测角仪记录折射光对应的角度,折射率测量软件包处理测量数据并对角度测量值进行误差补偿,最终获得被测紫外棱镜的折射率。本发明不仅实现了190nm 450nm波长范围紫外全波段连续光波的测量,同时还消除了该测量装置固有角度测量误差对探测与瞄准折射光信号的影响,从而提高了折射光角度测量精度,进而改善了折射率测量的准确度。

紫外光学材料折射率测量装置
  本发明公开了一种紫外光学材料折射率测量装置,包括单色光源系统、准指光学系统、测角仪、聚焦光纤系统、广大探测处理系统、置有折射率测量软件包的计算机处理系统。主要特点是,单色光源系统提供连续可变的紫外单色光,光电探测处理系统在测角仪的带动下探测被测紫外棱镜的折射光信号并转换成电信号,测角仪记录折射光对应的角度,折射率测量软件包处理测量数据并对角度测量值进行误差补偿,最终获得被测紫外棱镜的折射率。本发明不仅实现了190nm 450nm波长范围紫外全波段连续光波的测量,同时还消除了该测量装置固有角度测量误差对探测与瞄准折射光信号的影响,从而提高了折射光角度测量精度,进而改善了折射率测量的准确度。

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