[01929274]一种用于 X 射线掠入射衍射的原位拉伸装置
联系人：
所在地：
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
登录后向技术服务商咨询
发布技术需求
服务免费，交易还可领红包哦
技术详细介绍
一、成果简介
随着电子器件小型化、薄膜化发展， 了解薄膜材料在使役中的力学行为至关重要。常规 XRD 难以探测薄膜信息，而掠入射 X 射线衍射（GIXRD）结合原位拉伸技术，可动态监测薄膜在外场下的结构演变。本装置解决了传统夹持方式遮挡 X 射线束的问题，实现了沿拉伸轴方向的掠入射衍射测试， 已获发明专利授权。
二、主要应用领域和市场前景
本装置适用于薄膜材料沿拉伸轴方向的掠入射衍射测试，可获取拉伸过程中的微观结构信息。在航空航天、新能源、柔性电子及复合材料等领域具有广泛应用，能为高性能材料的力学性能优化和失效机制研究提供关键实验支撑，推动动态原位表征技术的标准化与产业化。
三、知识产权
已授权发明专利。