[00232060]基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201410494331.5
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中科院宁波先进制造所
进入空间
所在地：浙江宁波市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明提供了一种基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置。该装置系统采用具有磁性、导电、导热性的探针，能够提供样品的表面形貌探测、磁信号探测以及热信号探测模式，通过控制探针的位移或振动轨迹，能够原位、同步、实时地探测样品的磁、热性能。因此，该装置克服了现有扫描探针显微镜仅具有磁或热信号的单一探测功能的局限性；同时，能够原位、同步、实时地探测材料的温度与热导分布、磁畴结构及其动态演化过程，从而直观地研究材料的磁-热之间的耦合规律与机制，有助于降低微/纳器件的功耗，提高其稳定性和集成度，大大推进微/纳尺度热科学的发展。
摘要：本发明提供了一种基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置。该装置系统采用具有磁性、导电、导热性的探针，能够提供样品的表面形貌探测、磁信号探测以及热信号探测模式，通过控制探针的位移或振动轨迹，能够原位、同步、实时地探测样品的磁、热性能。因此，该装置克服了现有扫描探针显微镜仅具有磁或热信号的单一探测功能的局限性；同时，能够原位、同步、实时地探测材料的温度与热导分布、磁畴结构及其动态演化过程，从而直观地研究材料的磁-热之间的耦合规律与机制，有助于降低微/纳器件的功耗，提高其稳定性和集成度，大大推进微/纳尺度热科学的发展。
